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基于十进制矩阵编码和元治愈的存储系统可靠性研究

摘要

瞬态多单元扰动(MCUs)已成为辐射环境下存储器可靠性的主要问题。为了防止mcu造成数据损坏,更复杂的纠错码(ecc)被广泛使用。存储器单元的软误码率正在迅速上升。单片机已成为存储器中一个严重的可靠性问题。提出了一种新的基于除号的十进制矩阵编码(DMC),以提高内存可靠性,降低内存延迟开销。该算法利用十进制算法来获得最大的错误检测能力。为了在不影响整个编码和解码过程的前提下,尽量减少额外电路的面积开销,提出了编码复用技术(ERT)。ERT使用DMC编码器本身作为解码器的一部分。NAND闪存密度的增加导致闪存的误码率急剧增加,这大大降低了纠错码(ECC)处理多位错误的能力。Meta-Cure利用内置的ECC和复制来保护包含关键数据(如文件系统元数据)的页面。冗余对在运行时形成,并分布到不同的物理页以防止出现故障。

Iswarya Gopal, Rajasekar .T,

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